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半導體

半導體

半導體12寸

材料、晶圓

半導體封測

半導體12寸行(xíng)業(yè)主要痛點與挑戰

工(gōng)藝精細(最高(gāo)端的(de)制(zhì)程),流程複雜(流程長度1000-3000步,返工(gōng)和(hé)實驗批控制(zhì)邏輯複雜),設備自動化程度高(gāo),對系統依賴度很高(gāo)。

12寸晶圓廠(chǎng)爲了避免人(rén)工(gōng)搬運影響良率,一般都(dōu)會(huì)配備天車(chē)搬運系統,對全自動化搬運系統的(de)要求很高(gāo)對工(gōng)步和(hé)在制(zhì)品的(de)管控需要更加精細,比如(rú)在制(zhì)品追溯、QTime管控等從Lot級别深入到(dào)Wafer級别,對系統的(de)性能(néng)要求和(hé)穩定性要求很高(gāo)。

全自動化搬運和(hé)實時派工(gōng)需要協調多種操作模式的(de)設備,包括Inline光(guāng)刻機設備、Batch作業(yè)設備、Sorter傳片設備、多腔體設備等,同時還要自動處理(lǐ)各種異常情況,需打通APS、RTD、MES、MCS、EAPAPC、FDC、YMS等多個(gè)CIM系統來實現黑(hēi)燈工(gōng)廠(chǎng),複雜度極高(gāo)。

随著(zhe)半導體科技與貿易對抗趨勢的(de)加劇,外國廠(chǎng)商對國内客戶的(de)支持度受到(dào)影響,從設備到(dào)系統都(dōu)迫切需要國産替代。

半導體材料、晶圓

我們提供

業(yè)界最高(gāo)級别的(de)全自動化系統,從設備生産控制(zhì)、複雜工(gōng)藝流程管控到(dào)自動派工(gōng)搬運,全面覆蓋各種自動化場(chǎng)景。

經過12寸産線驗證的(de)整套CIM系統和(hé)方案,性能(néng)和(hé)穩定性充分(fēn)滿足日益精細和(hé)高(gāo)标準的(de)産線要求。

集成多個(gè)CIM系統,提供優秀的(de)全産品線解決方案,包括自研的(de)APS、RTD、MES、MCS、EAP、APC、FDC、YMS等,對應複雜度,化繁爲簡,助力打造黑(hēi)燈工(gōng)廠(chǎng)。

集合來自業(yè)界多家領先甲乙方公司的(de)資深行(xíng)業(yè)顧問團隊(台積電、聯電、中芯國際、應用(yòng)材料等),提供純正國産化的(de)12寸半導體CIM系統,爲目前市場(chǎng)上(shàng)國産替代最優選擇。

行(xíng)業(yè)應用(yòng)方案

哥瑞利全⾃主⾃動化物(wù)流産品

哥瑞利全⾃主⾃動化物(wù)流産品 哥瑞利全⾃主⾃動化物(wù)流産品

經過産線打磨驗證的(de)12寸半導體設備自動化場(chǎng)景和(hé)方案

12寸半導體設備自動化場(chǎng)景和(hé)方案

12寸半導體設備自動化場(chǎng)景和(hé)方案

材料、晶圓行(xíng)業(yè)主要痛點與挑戰

生産過程管理(lǐ)難點:生産數據管理(lǐ)難度大(dà)、生産過程監控不足、物(wù)料管理(lǐ)不精細、質量追溯困難。對系統規劃認知不同,6寸以手動作業(yè)爲主,8寸需Semi-auto、12寸需超越Semi-Auto,要結合客戶現場(chǎng)做好長遠規劃。研發性質對工(gōng)藝的(de)靈活性,Recipe的(de)管理(lǐ)有(yǒu)特定要求,需要我們結合客戶現場(chǎng)給出适配的(de)方案。國外CIM産品相(xiàng)對成熟,但(dàn)價格高(gāo)、容易被制(zhì)裁且售後無法保障。

半導體12寸

半導體材料CIM解決方案

半導體材料CIM解決方案

半導體晶圓代⼯CIM解決⽅案

以MES爲核⼼中樞的(de)12⼨半導體CIM系統框架

半導體材料CIM解決方案

半導體封測行(xíng)業(yè)主要痛點與挑戰

· 多客戶、多品種、小(xiǎo)批量,管理(lǐ)複雜

· 對材料、工(gōng)單必須進行(xíng)嚴格的(de)校(xiào)驗和(hé)追溯

· 代工(gōng)客戶工(gōng)單尾數管理(lǐ),制(zhì)定尾數策略,解決每個(gè)工(gōng)單有(yǒu)且隻有(yǒu)1個(gè)尾數

· 工(gōng)序低良率報警,上(shàng)芯率控制(zhì)

· 測試合批:封裝按小(xiǎo)批生産,便于開(kāi)展,測試按大(dà)批測試,解決測試合批策略問題

· 包裝策略:針對料盤容量,盒容量,箱容量定義,解決混包,亂包問題

· 抽樣/首件(jiàn)管理(lǐ),抽樣/首件(jiàn)方式種類繁多,通過系統保證抽樣有(yǒu)序

· 交接班,解決生産部計(jì)件(jiàn)工(gōng)資困擾

· 一片晶圓被多個(gè)工(gōng)單引用(yòng),工(gōng)單臨時占用(yòng)後,分(fēn)步消耗的(de)場(chǎng)景

· 解決磨劃和(hé)封測整合生産問題:多類晶圓分(fēn)片進入封裝,上(shàng)機使用(yòng)的(de)場(chǎng)景

· 針對FT測試結果,分(fēn)BIN進行(xíng)良率控制(zhì)(SYL/SBL)

· IGBT車(chē)規級大(dà)規模量産單件(jiàn)流追溯

半導體封測

解決方案

傳統封測MES、EAP、RCM、RPA、PDA

自動物(wù)流管理(lǐ)MCS/AGV

鍵合Golden recipe打線管理(lǐ)

劃片對刀(dāo)RPA

先進封裝整體CIM、RPA、FDC

E-Mapping及缺陷管理(lǐ)DMS

鍵合程序模拟

貼片Mapping對位調機RPA

實時派工(gōng)RTD

高(gāo)端封測單件(jiàn)流追溯ULTS

FT/CP RTM

終測文(wén)檔解析 RPA

先進排産APS

測試生産管理(lǐ)TMS

CP自動對針、針痕檢測 RPA

印章(zhāng)文(wén)檔自動生成RPA

行(xíng)業(yè)應用(yòng)方案

FT測試⾃動化管理(lǐ)

測試設備⽆法⾃動化

測試結果⽆法實時分(fēn)析

測試過程⽆法實時控制(zhì)

FT智能(néng)代操

掃碼Lot ID+設備ID,與MES集成實現:

MES⾃動做賬(進站/出站);

設備停機超時預警,提醒⼈員檢查;

Handler⾃動調取Recipe,關鍵參數驗證;

Handler⽣産數據采集(Bin1-8);

Tester⾃動輸⼊參數、校(xiào)驗;

Tester⾃動調取測試程序;

Tester測試數據(Datalog)⾃動保存上(shàng)傳

SYL/SBL/PAT/SITEGAP/數據⽐對/數據保存

批次良率管控(SYL)

硬件(jiàn)、軟件(jiàn)BIN、測試項管控(SBL)

部件(jiàn)平均測試管控(PAT/DPAT)

各測試站總良率差異值管控

測試數據⽐對(測試總數、良品數、不良數、批次數)

測試數據保存命名可(kě)配置化

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